DX-HAST350HAST高加速老化寿命试验箱
HAST高加速老化寿命试验箱是一种用于加速老化测试的设备,主要用于电子元件、半导体、光电器件、LED等产品的可靠性测试。HAST通过模拟高温、高湿、加压的环境,加速材料和元件的老化过程,从而在短时间内评估其在长期使用过程中的性能和可靠性。这种设备主要用于电子产品的高温高湿环境下的加速寿命测试,能够帮助制造商发现潜在的质量问题,确保产品的长期稳定性和可靠性。
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更新日期
2025-11-07 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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