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hast寿命试验箱

描述:hast寿命试验箱(Highly Accelerated Stress Test),也叫做快速老化试验箱,是一种常用的电子元器件可靠性测试设备。它主要用于模拟高温高湿环境下的加速老化条件,以评估电子元器件在恶劣环境下的可靠性和寿命。在HAST寿命试验中,样品通常放置在密封的试验室中,具有温度和湿度控制功能。试验箱还可能包括振动或机械应力等其他环境因素,以更准确地模拟真实工作环境。

  • 产品型号:DX-HAST350C
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-08-14
  • 访问量:230
产品介绍/ PRODUCT PRESENTATION
品牌德祥仪器产地类别国产
应用领域能源,电子,冶金,电气,综合温度范围+100℃~+132℃
湿度范围70%~100%湿度控制稳定度?±3%RH
使用压力?1.2~2.89kg(含1atm)压力波动均匀度?±0.1Kg

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hast高压加速老化试验箱设备特点:

1)采用进口耐高温电磁阀双路结构,降低了使用故障率。

2)独立蒸汽发生室,避免蒸汽直接冲击产品,以免造成产品局部破坏。

3)门锁省力结构,解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4)试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5)超长效实验运转时间,长时间实验机台运转400小时.

6)水位保护,透过试验室内水位Sensor检知保护.

7)tank耐压设计,箱体耐压力(150℃)2.65kg,符合水压测试6kg.

8)二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9)安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮 .

10)偏压测试端子耐压可达3000V(选配)

11)USB导出历史记录数据,曲线.

hast蒸汽老化试验箱用途:

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。

hast寿命试验箱(Highly Accelerated Stress Test),也叫做快速老化试验箱,是一种常用的电子元器件可靠性测试设备。它主要用于模拟高温高湿环境下的加速老化条件,以评估电子元器件在环境下的可靠性和寿命。

hast寿命试验箱采用高压饱和蒸汽的方式,将样品置于高温高湿环境中,并施加一定的电气应力,以模拟真实环境中的潮湿条件。通过加速老化过程,可以在相对较短的时间内观察到可能会发生的故障和退化现象,从而提前检测和改善电子元器件的可靠性。

在HAST寿命试验中,样品通常放置在密封的试验室中,具有温度和湿度控制功能。试验箱还可能包括振动或机械应力等其他环境因素,以更准确地模拟真实工作环境。

HAST寿命试验箱广泛应用于电子元器件、半导体芯片、集成电路等领域的可靠性测试中。通过该设备,制造商可以评估产品在高温高湿环境下的性能和寿命特性,优化产品设计和生产工艺,提高产品质量和可靠性,以满足市场需求和用户期望。


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