DX-H302I电子电器外壳紫外老化试验箱
电子电器外壳紫外老化试验箱是一种专门用于模拟电子电器外壳在长时间暴露于紫外线、温湿度变化等环境因素下的老化过程的测试设备。通过加速紫外线照射、温湿度循环等环境条件,试验箱可以有效模拟电子产品外壳在实际使用中的老化情况,帮助评估其耐紫外线、耐候性、外观变化(如褪色、变脆)以及机械性能的衰退。
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更新日期
2025-11-05 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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