DR-H203-2Q模块芯片冷热循环冲击试验箱
模块芯片冷热循环冲击试验箱是一种专门设计用于测试电子模块、芯片及其组件在温度变化和冷热冲击环境下的可靠性和耐久性的实验设备。随着电子产品向更高性能、更小体积发展,电子模块和芯片在各种工作条件下的可靠性变得尤为重要,因此需要进行冷热循环冲击试验,以确保其在实际应用中能稳定工作。
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更新日期
2025-11-07 - 02
厂商性质
生产厂家 - 03
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