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GB/T 4937.13-2018半导体器件 机械和气候试验方法 盐雾

时间:2023/4/7      浏览次数:130

GB/T 4937.13-2018/IEC 60749-13:2002半导体器件  机械和气候试验方法第13部分∶盐雾

4937.13-2018.png

1  范围

GB/T 4937的本部分规定了半导体器件的盐雾试验方法,以确定半导体器件耐腐蚀的能力。本试验是模拟严酷的海边大气对器件暴露表面影响的加速试验。适用于工作在海上和沿海地区的器件。

本试验是破坏性试验。

本试验总体上符合IEC60068-2-11,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。

2  规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

IEC60749-14 半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分∶引出端强度(引线牢固性)【Semi-conductor devices—Mechanical and climatic test methods——Part 14:Robustness of terminations(lead integrity)]

IEC60068-2-11 环境试验 第2部分∶试验方法 试验Ka∶盐雾(Environmental testing—Part 2:Tests——Test Ka:Salt mist)

3  试验设备

盐雾试验所用设备应包括∶

a)带有耐腐蚀的支撑器件夹具的温控试验箱;

b盐溶液槽∶所用的盐应为无水氯化钠,其碘化钠的质量分数不超过0.1%,且总杂质的含量不超过0.3%,蒸馏水(或使用的其他水)的杂质含量不超过200×10-6,应通过过滤以控制溶液的杂质含量,为了达到第4章所要求的沉降率,去离子水或蒸馏水盐溶液的盐浓度应为0.5%~3%(质量百分比);

c) 使盐液雾化的装置,包括合适的喷嘴和压缩空气源;

d) 高于箱内温度的某温度下,保持空气潮湿的装置;

e) 1倍~3倍、10倍~20倍的放大镜。

盐雾试验机120 1.png



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